L’analizzatore di massa incorpora un quadrupolo al quarzo, una sorgente ionica completamente inerte e il migliore rivelatore del
settore. Questa potente combinazione fornisce una maggiore risoluzione MS e la più bassa deviazione di massa; assicura inoltre
una sensibilità superiore e l’integrità degli spettri, per la massima sicurezza dei tuoi risultati. La nuova tecnologia Trace Ion Detection
fornisce capacità superiori per analiti presenti in concentrazioni estremamente ridotte.
Monitoraggio di ioni selezionati e scansione completa ad alte prestazioni
La modalità SIM/Scan sincronizzata ti permette di catturare i dati SIM e i dati della scansione completa con la stessa acquisizione.
Molti laboratori utilizzano la modalità di scansione completa per la maggior parte delle loro analisi, perché è più semplice da
impostare e le biblioteche di spettri sono reperibili più facilmente.
La modalità SIM, d’altro canto, offre un miglioramento significativo della sensibilità rispetto ai dati provenienti dalla scansione completa;
tuttavia, i dati SIM non possono essere confrontati con quelli delle biblioteche spettri in commercio.
Ora, con la modalità SIM/Scan sincronizzata del sistema 5975C, puoi averle entrambe con una sola analisi! Ma non è tutto. Non è
necessario che tu sia un utilizzatore esperto per farlo. Il software AutoSIM Agilent converte automaticamente i dati della scansione
completa in parametri di acquisizione per SIM o SIM/Scan. I Dwell Time della SIM possono essere impostati con incrementi di 1 msec,
da 100 msec fino a 1 msec.