Microscopio elettronico

Microscopio elettronico a scansione con sorgente ad emissione di campo FE-SEM, progettato per ottenere alta risoluzione di fascio e immagini caratterizzate da un eccellente rapporto segnale/rumore.

Caratteristica peculiare del sistema è la possibilità di raggiungere alte risoluzioni anche con elevate correnti di fascio, divenendo quindi uno strumento indispensabile per coloro che sono interessato all’analisi composizionale (EDX, WDX, EBSD). Inoltre la tecnologia BDT (Beam Deceleration Technology) garantisce l’ottenimento di altissime risoluzione anche alle bassissime tensioni di accelerazione.

Caratteristiche Principali:

  • Cannone Elettronico: Schottky FEG
  • Risoluzione HV: 1nm @ 30kV, 1,5nm @ 3kV (BDM)
  • Risoluzione LV: 1,5nm @ 30kV (LVSTD)
  • Vuoto in Camera: HV < 9 x 10-3 Pa, LV da 7 a 500 Pa
  • Ingrandimenti: fino a 1.000.000x
  • Corrente di Fascio: da 1Pa a 200nA

SCHEDA TECNICA BRUKER QUANTAX 200/10 - XFlash®Mini Detector

Quantax è un sistema di microanalisi EDS modulare ed estremamente flessibile per analisi qualitative e quantitative ad elevate prestazioni. Il software di analisi quantitative senza standard consente una valutazione manuale, automatica o interattiva degli spettri e produce risultati affidabili su campioni piani o irregolari, film sottili e particelle. Prerogativa del sistema è l’utilizzo del rivelatore XFlash, un Silicon Drift Detector (SDD) che non necessità di azoto liquido, permette conteggi estremamente elevati e migliora le rivelazione degli elementi leggeri. Quantax produce analisi qualitative e quantitative, profili di scansione, mappature elementari e acquisisce immagini ad elevata risoluzione (4Kx4K). Il sistema è completo di un pacchetto di “project management” per una semplice e rapida gestione del flusso di lavoro e di un “report generator” per la creazione di rapporti professionali in modo semplice ed intuitivo. Quantax-200 può essere aggiornato alla versione 400 o 800 and è predisposto per una completa integrazione hardware e software con i sistemi EBSD (Crystalign), WDS (Xtrace) e MicroXRF (Xtrace)

La serie 600 Mini rappresenta la nuova evoluzione dei rivelatori XFlash. La lunga esperienza Bruker nella produzione di rivelatori SDD (prima generazione SDD introdotta nel 1997) permette di combinare elevate prestazioni in termini di risoluzione e conteggi ad un estrema affidabilità meccanica. Risoluzione garantita MnK ≤ 129 eV Area attiva: 10mm2 Diametro del tubo ridotto per un migliore angolo solido: 16 mm. Rivelazione di elementi dal B (5) al Cf (98). Stabile da 1 a 100 000 cps. Le risoluzioni dei rilevatori Bruker, oltre ad essere le più elevate attualmente in commercio, sono garantite a 100.000 cps. Questo consente di acquisire dati accurati in tempi brevissimi. Senza vibrazioni, senza manutenzione, super Light Element Window (SLEW).Raffreddamento a Peltier (non necessita azoto liquido). Sistema di retrazione manuale. FET integrato: particolarità ed unicità della sesta generazione dei rivelatori SDD Bruker è l’utilizzo di un chip con FET integrato che, rispetto ai sistemi con FET esterno, risulta essere più veloce ed introduce un minor disturbo elettronico